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Si/(Ni-Cr 合金)/Cu 扩散偶 950℃时的界面反应
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王炜,李长荣,杜振民,郭翠萍
北京科技大学材料科学与工程学院,北京(100083)
E-mail:wangwei929@126.com
摘 要:在半导体硅片(Si)-扩散阻挡层(Ni-Cr 合金)-金属互连材料(Cu)构成的体系中,Si
和 Ni-Cr 合金之间以及 Ni-Cr 合金和 Cu 之间各构成一对扩散偶。本文通过制备该体系扩散
偶试样,测得 Si/Cr-Ni 界面反应生成相的表观序列为:Si/CrSi/αCr
5
Si
3
/δ/Cr
3
Si/(Ni)/Cr
0.7
Ni
0.3
。
生成的硅化物中未含有高阻相,其中 Cr
3
Si、Cr
5
Si
3
相具有密度低、熔点高、高温硬度高、
高温抗氧化和抗热腐蚀性能优异等特点;Cu/Cr-Ni 界面可通过原子之间的扩散达到两相平衡
关系,Cr-Ni 合金对 Cu 原子向半导体 Si 片的扩散起到了很好的阻挡效果。
关键词:Cu/Cr-Ni/Si;扩散偶;界面反应
中图分类号:TG111.5
1. 引言
随着集成电路集成度的提高,内连材料线宽尺寸不断降低,Al 作为内连材料其性能已
难以满足集成电路的要求。20 世纪 90 年代以来,Cu 由于具有低的电阻率和高的抗电迁移
与抗应力迁移能力,可作为 Al 的替代材料,得到了广泛研究
[1]
。
与 Al 相比,Cu 具有室温下电阻率低、抗电迁移和应力迁移特性好等优点。Cu 的电阻
率为 µΩ·cm ,仅为 Al 的 % ;Cu 在 ℃条件下测得的电应力引起的离子漂移速度分
别为 Au 和 Al 的 和 ,Cu 发生电迁移的电流密度的上限为 5×10
6
A/cm
2
,而 Al 的上限
为 2×10
5
A/cm
2
;Cu 的应力特性也远远好于 Al
[2]
。所以,无论从减少互连延迟的角度,还是
从互连可靠性的角度,Cu 互连的性能都超过 Al 互连。但是,Cu 互连也存在一些问题。首
先,是 Cu 污染问题。对于 Si 半导体,Cu 是间隙杂质,即使在很低的温度下也可以迅速地
在 Si 中扩散,从而影响器件的少数载流子寿命和结的漏电流,使器件的性能变坏,甚至失
效。其次,是当 Cu 淀积到硅片后经 200℃退火 300min 便会形成高阻的铜硅化物,而且 Cu
与 Si 层的粘附性较差。为了解决 Cu 污染和形成高阻铜硅化物及粘附性较差等问题,人们提
出了增加扩散阻挡层的解决方案。
好的阻挡层材料应该有高的熔点,因为扩散性与基质材料的熔点直接相关。大多数研究
集中在各种高熔点的纯金属(如Cr,Ti,Nb,Mo,Ta和W)和化合物(如TiN)作为Cu和Si之间
的扩散阻挡层
[3]
。双金属淀积层是一种有效的扩散阻挡层,可适应日益广泛的浅结器件对薄
膜型欧姆接触的要求
[4]
。这种扩散阻挡层是通过将贵金属A(一般为Pt,Pd和Ni等)和难熔
金属B(一般为W,V和Cr等)的合金淀积在硅衬底上,将沉积后的固溶体薄膜在一定的温
度退火,合金沉淀层便发生相分离,A与Si发生反应形成硅化物,难熔金属B仍留在薄膜的
表面层变成双层结构,对Cu与Si之间的扩散起到双层阻挡的效果。张丽娟、王芳
[5]
等人研制
的Cr-Ni薄膜电阻材料可靠高、高稳定性好,应用在具体电路中,可以得到满意的效果。
本文针对半导体硅片(Si)−扩散阻挡层(Cr-Ni 合金)−金属互连材料(Cu)构成的体
系,制备 Si/Cr-Ni/Cu 扩散偶,在 950℃温度下退火,模拟金属/半导体接触材料承受的高温
作用,对界面反应的新相生成序列进行实验测定和分析研究。
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本课题得到了高等学校博士学科点专项基金(项目编号:20060008015)与国家自然科学基金(项目编号:
50671009)的资助。