为研究相变随机存储器(PCRAM)的结构、读写电路及材料等对存储单元读写性能的影响,基于Matlab和Hspice软件,集成读写电路仿真和PCRAM存储元物理仿真,研制了PCRAM存储单元仿真系统。该系统能产生宽度和幅度分别在4~150ns和0.25~3.00V之间可调的脉冲,适用于对多种结构存储元进行仿真。边缘接触式结构存储单元仿真结果表明:研制的系统能对存储单元的读、写性能进行评估,并为电路和存储元设计提供数据。
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