电荷耦合器件饱和效应对PIE成像质量的影响

在研究电荷耦合器件(CCD)饱和效应对PIE成像质量影响的基础上，提出了一种改进的重建算法。该方法可以从发生部分饱和的数据重建出准确的再现像。和现有的方法相比，此方法可以在保证分辨率不受影响的条件下，大幅度缩短数据采集时间，因此可显著降低对实验装置和样品稳定性的要求，对PIE方法的推广应用有重要的实际意义。