朱卫良 宫建华 陆 坚(中国电子科技集团公司第58研究所，江苏 无锡 214035)摘 要：本文讲述了颗粒碰撞失效的分析方法。找出了引起失效原因的可动颗粒。关键词：颗粒碰撞；可动颗粒；X-射线中图分类号：TN407 文献标识码：A1 引言颗粒碰撞噪声试验是用来检测集成电路、混合电路、晶体管、继电器和开关等电子元器件封装腔体里存在的自由粒子，腔体里存在的自由粒子，也即多余的可动物时，它可导致元器件失效、时好时坏，特别是整机在运动过程中更表现突出，故对产品的可靠性，尤其是航天产品，危害性极大。 颗粒碰撞噪声检测(PIND)，专门用来检测腔体内部多余的可动物。试验方法是，将元器件固定在振动台上，对它
