颗粒碰撞失效分析

VIP专享 2020-12-09 10:36:15 76KB PDF
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朱卫良 宫建华 陆 坚(中国电子科技集团公司第58研究所,江苏 无锡 214035)摘 要:本文讲述了颗粒碰撞失效的分析方法。找出了引起失效原因的可动颗粒。关键词:颗粒碰撞;可动颗粒;X-射线中图分类号:TN407 文献标识码:A1 引言颗粒碰撞噪声试验是用来检测集成电路、混合电路、晶体管、继电器和开关等电子元器件封装腔体里存在的自由粒子,腔体里存在的自由粒子,也即多余的可动物时,它可导致元器件失效、时好时坏,特别是整机在运动过程中更表现突出,故对产品的可靠性,尤其是航天产品,危害性极大。 颗粒碰撞噪声检测(PIND),专门用来检测腔体内部多余的可动物。试验方法是,将元器件固定在振动台上,对它

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