Cr:Nd:GSGG晶体1.061 μm受激发射截面随温度变化特性研究

测量了Cr:Nd:GSGG晶体从-70 ℃到+80　℃温度下的荧光发射光谱和荧光寿命,计算了该晶体在不同温度下1.061 μm受激发射截面,获得在此温度变化范围内受激发射截面随温度的线性变化关系。