使用外部磁场表征磁性薄膜的二次共振磁力显微镜

开发了一种使用外部磁场对磁性薄膜进行检测和成像的双峰磁力显微镜（MFM）。 通过施加外部调制磁场，悬臂式探头的振动会在其较高的本征模态下被其磁头激发。 使用磁性纳米粒子样品，证明了可以对地形和磁力进行单次通过成像的技术的能力。 为了检测薄膜材料的磁性，其信噪比和灵敏度被证明在提升模式下优于传统的MFM。 次级共振MFM技术为表征各种材料（尤其是弱磁性的磁性薄膜）的纳米级磁性提供了有前途的工具。