一种基于折叠序列重排并行低功耗确定自测试方案 (2005年)

提出了一种基于折叠序列重排并行低功耗确定自测试方案，它是基于折叠序列的特征，采用相应的控制逻辑和译码器控制折叠序列的生成次序，使得测试序列之间的相关性得到显著改善，从而大大降低了确定测试模式下的功耗。同时也解决了测试数据集的压缩，并且使测试速度明显提高，测试应用时间显著降低。实验结果表明，这一方案不仅具有较高的测试数据压缩率，而且能够非常显著地降低测试功耗，平均测试功耗比类似方案减少了85.10%。