摘要：为了提高集成电路的成品率,试图采用更简便有效的方法测试芯片,并获得反映电路特性的故障响应率,在进行电路功能仿真(前仿真)或电路时序仿真(后仿真)的过程中,对电路注入单故障或多故障,然后在电路存在故障的情况下,模拟电路的行为,获得电路的故障响应率。实现了一个通用的数字电路"故障响应分析"程序,他模拟电路注入故障,收集模拟结果,通过分析获取电路的故障响应率。
1 研究背景
随着半导体器件的尺寸不断缩小，集成电路(IC)设计的规模越来越大，芯片集成度越来越高，使得芯片测试越来越困难。为了提高集成电路的成品率，研究人员把更多的精力放在芯片的测试技术上，试图采用更简便有效的方法测试芯片
