在Belle上用一叉强子τ衰变测量B′→D * τ-ν′τ衰变中的τ轻子极化和R（D *）

利用Belle探测器在KEKB电子-正电子对撞机上记录的772×106 BB对的全部数据样本，研究了衰变B′→D * τ-ν′τ与强子τ衰变τ-→π-ντ 和τ-→ρ-ντ。 测量了两体强子τ衰变中的τ极化Pτ（D *）以及分支分数R（D *）= B（B′→D *τ-ν¯τ）/ B（B →D *ℓ-ν¯ℓ），其中ℓ-表示电子或介子。 我们的结果Pτ（D *）=-0.38±0.51（stat）-0.16 + 0.21（syst）和R（D *）= 0.270±0.035（stat）-0.025 + 0.028（syst）与理论预测一致 标准模型。 在90％置信度下，Pτ（D *）> + 0.5的极化值不包括在内。