离散Hopfield联想存储器（DHAM）在联想记忆方面有很大的优点,但是在硬件实现过程中存在着各种故障。对于软硬故障同时存在情况下DHAM的性能进行分析是很有必要的。该文对DHAM建立了同时包含权值误差、权值断路、神经元输出固值等各种软、硬故障的故障模型,定义了概率意义下DHAM的鲁棒性。运用概论统计的方法推导出了运行于同步方式下DHAM的鲁棒性,推导中对结果进行了近似处理。对DHAM系统进行了仿真实验,与利用这种鲁棒性分析方法计算进行了对比,结果相差非常小,证实了此方法的正确性,可以用于DHAM的可靠
