RFID技术中的IC参数成品率全局优化的映射距离最小化算法

关键词： 参数成品率；映射距离；均匀设计；k近邻密度估计 摘要： [pdf全文] 提出了一种新的集成电路参数成品率的全局优化算法——映射距离最小化算法．该算法采用了均匀设计与映射距离最小的耦合优化，每次迭代模拟次数很少，优化过程明显加速．另外，给出了一种粗略估计空间点集均匀性的方法——k近邻密度估计，在有效时间内判断一个空间点集的均匀性．模拟结果表明，该算法对集成电路进行快速成品率优化设计及提高电路设计的稳定性具有较好的应用价值．