多次漫反射法测量粉末中的杂质吸收光谱及其计算机模拟

本文提出了用多次漫反射法来测定粉末样品的杂质吸收光谱,其结果与同材料的透明片状样品的杂质吸收光谱基本一致,为了验证更普遍的对不同折射率粉末情况,文中采用假设模型,以计算机模拟方法,其所得的结果说明,当颗粒足够小,色散又不太大时,所得的粉末样品与透明片状样品的吸收光谱一致,只差一个未知的吸收光程,如再与另一特性参数(寿命或量子效率)测量相结合,即可用来确定稀土杂质在材料中的辐射跃迁几率等物理参数。