Cadence设计系统有限公司今天宣布，凭借其最新的数据压缩以及成品率诊断性能，该公司正不断扩展在测试和成品率诊断领域的技术先导地位。新版Cadence:registered: Encounter:registered: Test通过为非专有的片上异或（XOR）测试数据压缩结构提供更广泛的支持,解决在制造高品质硅芯片过程中的费用上涨问题。此新型数据压缩性能增强了自动化测试矢量生成(ATPG)和诊断产品之间的多厂商互操作性，并支持使用一站式诊断流程。 “较高的测试覆盖率以及对众多测试数据压缩体系的有力支持相对于测试成本以及生产成本而言是我们实现高品质目标的关键因素。” Freescale半导体公司DFM/DFT 方法部的经理Raj Ra
