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Annealing induced refinement on optical transmission and electri...
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2021-02-10
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The effect of annealing condition on sputtered indium tin oxide (ITO) films on quartz with the thickness of 200 nm is characterized to show enhanced optical transparency and optimized electrical contact resistivity. The as-deposited grown ITO film exhibits only 65% and 80% transmittance at 532 and 632.8 nm, respectively. After annealing at 475 oC for 15 min, the ITO film is refined to show improved transmittance at shorter wavelength region. The transmittances of 88.1% at 532 nm and 90.4% at 632
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