基于Volterra 核二次型分布的非线性模拟电路软故障诊断

<p>针对非线性模拟电路软故障诊断的难题, 基于Volterra 核二次型分布—–Wigner Ville 分布(WVD), 提出一种故障特征提取的新方法. 首先计算待测试电路(CUT) 的Volterra 核; 然后对该Volterra 核进行WVD转换, 得到WVD函数, 从中提取出故障特征, 完成非线性模拟电路的软故障诊断. 仿真实验结果表明, 该方法能有效地解决<br> 故障混叠难题, 提升故障元件检测和定位的能力.</p>