MgⅡ 280nm线的共振逃逸因子和跃迁概率的理论计算 (2008年)

基于已得到的佛克脱线型的精确表达式，对于高斯线型和洛伦兹线型，理论计算了组成MgⅡ280nm两条共振线的共振逃逸因子和跃迁概率．在计算过程中，对镁原子的上下能级的碰撞强度、基态数密度和镁等离子体在谱线中心的光学深度进行了分析讨论．计算结果和报道的实验结果相一致．