吉时利仪器公司(Keithley Instruments Inc.)日前发布6.1版交互式KTEI，暨功能强大的KTEI(吉时利交互式测试环境)测试软件之最新版本，适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI V6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I-V能力，并显著改进脉冲和DC测量的相关性。 脉冲测试正成为日益重要的新特性分析技术。高速脉冲避免了自加热效应可能造成的损坏，并应用于新半导体材料和器件的特性分析，例如高k栅层叠特性分析中的电荷俘获。吉时利4200-PIV包将4200-SCS的能力扩展至包含脉冲发生和分析的领域，适用于材料和器件特性分析。 此外，KTEI
