芯片内部与外部测试的深层采样储存技术

FPGA进行芯片内部(on-chip)纠错的技术已发展多年，现已成为取代传统复杂FPGA纠错模式的一项热门替代方案。不需配置宝贵的通用I/O接脚，便可将虚拟测试探测器(test headers)置于FPGA任何角落，是可编程逻辑元件受欢迎的功能之一。本文章将介绍在芯片内部纠错的一些限制，以及一套结合两种测试模式的替代方案，可整合芯片内部与外部测试模式的深层采样储存技术。