采用时钟屏蔽策略降低测试功耗 (2007年)

为了降低每时钟周期的平均及峰值功耗，在两级扫描结构基础之上提出时钟屏蔽及它的改进策略。利用测试激励压缩条件和测试响应压缩条件对电路进行划分，在每个时钟周期激活子电路的方法来降低峰值。实验结果表明：采用改进策略测试的总功耗平均降低到全扫描的0.39％，峰值功耗平均降低到全扫描的16.26％，捕获阶段的峰值平均降低到全扫描的10.97％。从结果可以看出，采用多级时钟屏蔽策略进行电路测试，与传统的全扫描测试方法相比，测试功耗及其他影响扫描测试代价的参数均有明显的降低。