纳米 Zn1 - xCuxO薄膜的结构及光学性质 (2009年)

采用射频磁控溅射制备了不同 Cu掺杂浓度的 ZnO薄膜。以 X射线衍射、扫描电镜等对薄膜的结构和 形貌进行了表征,XRD和 SEM测试结果显示 Cu掺杂量为5.0 at. %时,Zn0.95Cu0.05O薄膜呈纳米柱状结构。同 时也对薄膜的光致发光( PL)进行了研究。结果表明,406 nm的发光峰源于带边自由激子电子的复合,440 nm 的发光峰则和薄膜中的锌间隙 Zni缺陷有关。