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为了阐明细胞放射抗性的分子机制,通过长期暴露于X射线并逐步增加剂量,建立了临床相关的放射抗性细胞系。 尽管每天接受2 Gy X射线照射超过30天,已建立的细胞仍继续增殖,这是癌症放射治疗的标准方案。 通过评估暴露于X射线后的次黄嘌呤磷酸核糖基转移酶(HPRT)基因座的突变频率,确定了抗辐射和亲代细胞中的DNA修复保真度。 通过多重聚合酶链反应检查HPRT基因座处的突变谱。 通过检测X射线照射后的磷酸化组蛋白H2AX(γH2AX),评估了X射线诱导的DNA双链断裂(dsbs)的重新结合动力学。 耐辐射性和亲代细胞系之间由于急性辐射引起的HPRT突变频率的增加倍数相似。 但是,由2 Gy X射线/天组成的分次辐射(FR)会增加亲本的HPRT基因座处的突变频率,但不增加抗辐射细胞的突变频率。 在HPRT基因座处对FR诱导的突变进行分析后发现,亲本中有较高的缺失突变发生率(> 70%),而放射抗性细胞中则没有。 如通过γH2AX免疫染色所评估的,在10天的X射线急性照射下诱导的DNA dsbs在7天之内在抗辐射性中修复,但在亲本细胞中未修复。 此外,在亲本培养物中,2 Gy×5 FR增加了γH
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