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一种新型测试生成电路的设计
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2021-02-03
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摘要:使用d兼容为基础的宽压缩,设计了一种用于混合式机内自动测试的新型测试生成电路。这种测试电路具有每个时钟循环都对电路进行测试的特点,特别适合于自动计数的设计和自测结构。关键字:错误覆盖;实验时钟;生成电路 一、引言机内自测正被广泛地应用于测试复杂的识别码。机内自测的测试方法大体上分为时标测试和扫描测试。前者是每个时钟循环都对电路进行测试,特别适合于自动计数的设计和自测结构,如逻辑障碍监测装置,这种测试常在置入的触发器和测试电路间加入一些逻辑电路。扫描测试法也称为扫描自测,在扫描链自序列位的顺序变化中,使用线性反馈移位寄存器,使用此种方法,扫描触发器和测试电路之间不会插入其它电路,但测试时间
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