本文用频率扫描ATR(衰减全反射)法测量了用棱镜耦合的金属复盖介质波导中导模的色散性质,首次在实验中观察到模折射率ReN<1的光导模,实验结果与理论计算相符。实验中发现,耦合效率及N数值与金属层的厚度有关,当金属耦合层的厚度为130(?)时,耦合效率达到极大值。
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