我们对ΓZ，R f 0 $$ {\ overline {\ Gamma}} _ {\ mathrm {Z}}，{\ overline {R}} _ f ^ 0 $$和 在标准模型有效场理论（SMEFT）中，由于六维算子导致的部分Z宽度（包括有限项）。 我们假定UV上的CP对称和U（3）5对称匹配到维度6算子上，主要由标准模型Yukawa矩阵破坏。 使用输入参数α^ ew M ^ ZG ^ F m ^ tm ^ h $$ \ left \ {{\ widehat {\ alpha}} _ {\ mathrm {ew}}，{\ widehat { M}} _ Z，{\ widehat {G}} _ F，{\ widehat {m}} _ t，{\ widehat {m}} _ h \ right \} $$，并在相同的限制范围内进行一次循环校正。 我们表明，在一个循环中，有助于精确LEPI伪观测的SMEFT参数数量超过了测量数量。 结果，达到环路校正的大小之前，对LEP数据起作用的SMEFT参数在形式上是不受限制的，直到在全局分析中考虑其他数据为止。 这些循环效应的大小通常是SMEFT中
