测试光敏晶体管的好坏，可用万用表Rx1k档，按图1连接好，即黑表笔(表内电池证极)接集电极c、红表笔接发射极E。在无光照在光敏晶体管上时，万用表所指示的阻值很大;当有光照射到光敏晶体管上时，万用表指针应大幅度问右摆动，万用表所指示的阻值很小。
图1用万用表检测光敏晶体管
光敏晶体管是一种特殊类型的晶体管，其工作原理基于光电效应。它在电子电路中扮演着传感器的角色，能够将光线强度转换为电信号。在实际应用中，了解如何检测光敏晶体管的好坏至关重要，以确保电路的稳定性和可靠性。
在进行光敏晶体管的检测时，通常使用万用表，这是一种多功能电子测量仪器，可以测量电压、电流和电阻等参数。这里介绍的方法是利用万用表的电阻档位（Rx1k档）来进行测试。必须正确识别光敏晶体管的三个引脚：基极B、集电极C和发射极E。对于NPN型光敏晶体管，集电极通常标识为"C"，发射极标识为"E"。
按照描述中的步骤，首先将万用表设置在Rx1k档，然后将黑表笔（通常连接万用表内部电源的负极）接触集电极C，红表笔接触发射极E。这是因为我们要测量的是集电极到发射极的反向电阻，以评估光敏晶体管在没有光照条件下的暗态性能。
在无光照条件下，光敏晶体管应该表现出高阻态，即万用表的指针会显示一个较大的电阻值，通常在兆欧级别。这是因为没有光子激发电子-空穴对的形成，晶体管处于截止状态，电流几乎不流动。如果读数远高于正常值，可能表明光敏晶体管存在损坏或性能下降的问题。
接下来，将光照射到光敏晶体管上，例如使用手电筒或日光。当光线照射到光敏晶体管时，由于光电效应，光敏晶体管内部会产生电子-空穴对，使得集电极到发射极之间的电阻显著降低。因此，观察到的现象应该是万用表指针大幅度向右摆动，指示的电阻值显著减小。如果在光照下指针移动不明显或阻值没有显著变化，那么可能光敏晶体管的光敏性能已经降低或者存在故障。
需要注意的是，测试过程中应确保光线的强度足够，因为光敏晶体管的响应度与光照强度有关。同时，为了得到准确的测量结果，应避免环境光的影响，可将测试过程置于暗室或使用遮光措施。
通过上述方法，我们可以有效地检测光敏晶体管的工作状态，判断其好坏。如果在检测过程中发现异常，可能需要更换新的光敏晶体管，以确保电路的正常运行。在设计和维修电子设备时，掌握这种基本的检测技巧是非常实用的。
