应用激光侧向散射测量粒径分布的理论研究

提出一种新型的颗粒测量方法,基于Mie散射理论,从另一独特的视角接收大角度的侧向散射光,并建立新的理论模型,可使测量下限扩展,技术要求有所改善。结合目前已经成熟的半导体激光和CCD技术,运用此原理可使颗粒测量仪器向更轻便、灵敏发展。