非理想PA(power amplifier，功率放大器)的输入阻抗是在负载拉移系统中采用源拉移方法测量的，这种方法不存在由测量设备阻抗引起的不准确性。但是，对源和负载调谐器采用多点测量和双端口S参数值的测试方法能够在探针/器件基准面上提取射频信号功率级真正的PA输入阻抗。
随着人们越来越多的关注集成式射频功率应用，对片上元件进行准确的特征分析对于成功实现集成电路设计变得至关重要。尤其对于PA而言，这一问题更加复杂。发送通路的高功率量级决定了PA的多种特殊属性。其中之一就是它的输入阻抗较低，该阻抗是随着功率量级的变化而变化的。一般地，我们采用负载拉移系统测量片上元件的阻抗，或者其他一些不是
