KAP单晶不同位错密度区域点阵常数变化的“就地”双晶测量

所需积分/C币:5 2021-03-04 23:10:32 869KB PDF
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本文报道用X射线双晶衍射的(n,-n)几何排列对不同位错密度区域点阵常数的测试结果。从一对(001)晶片的(001)晶面的对称反射的测试结果表明,不同位错密度区域的点阵常数变化的最大范围为3.8~1.92×10-4nm。

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