使用气相色谱系统和质谱仪测定ppq级氙气中的rypto

我们已经开发出一种新方法，可以以前所未有的低浓度测量氙中的痕量k。 对于许多近距离低本底粒子物理探测器而言，这是一项强制性任务。 我们的系统使用低温气相色谱法从氙气中分离k。 然后使用质谱仪定量k的量。 我们证明了该系统已达到8 ppq（每百万亿分之几）的检测极限，并提出了k浓度低于1 ppt的蒸馏氙的结果。