在深入研究了给定文件的信息后，我们可以提炼出以下知识点：
1. 单斜率ADC与SAR ADC的结合：文中介绍了将单斜率ADC和逐次逼近寄存器（SAR）ADC结合使用的混合架构。在这一方案中，单斜率ADC用作第一阶段，负责生成3位数据和1位冗余位。这种混合信号误差校正策略允许单斜率阶段容忍高达3.125%的量化噪声。
2. 误差校正算法：文中提出了一个误差校正算法，该算法利用冗余位和随后的8位SAR ADC输出码相结合，以纠正可能的量化误差。这种方法显著减少了单斜率ADC的功耗和芯片面积。
3. CMOS图像传感器的应用：本文提出的11位两步ADC方案针对CMOS图像传感器的应用进行了优化。传统两步ADC方案需要第一阶段的单斜率ADC具有全分辨率的噪声性能，这会导致高功耗和大的芯片面积。
4. 功耗与芯片面积的降低：通过采用混合信号误差校正机制，单斜率ADC的功耗和芯片面积得到了显著降低。作者提到，采用0.18微米CMOS工艺技术制备的原型ADC芯片面积为7微米×500微米。测量结果显示，在1.4V的电源供应下，所提出的ADC核心的能量效率系数（FOM）仅为125皮焦/样本。
5. 低功耗与适中速度的列并行读出方案：在高分辨率CMOS图像传感器设计中，列并行读出方案被广泛应用。与阵列式ADC方案相比，列并行读出电路可以在保持适中的速度的同时实现低功耗和简单的通道设计复杂度。
6. SAR ADC的能量效率：文中指出，SAR ADC是能量效率最高的ADC方案之一。然而，为了保证线性，SAR ADC要么需要较大的芯片面积，要么需要校准。因此，在高速CMOS图像传感器中应用SAR ADC存在挑战。
7. 单斜率ADC的局限性：虽然单斜率ADC的架构非常简单，但其操作速度慢，能量效率低，这使得其难以应用于高速CMOS图像传感器中。
8. ADC核心的芯片面积效率：文中提到的原型ADC的芯片面积效率为84k微米²/样本·周期，表明该方案在芯片面积利用方面具有一定的优势。
通过这些知识点，我们可以看出，这项研究工作旨在解决传统两步ADC设计中存在的高功耗和大芯片面积问题，通过混合使用单斜率和SAR ADC技术，提出了一种新颖的、节能高效的CMOS图像传感器用ADC解决方案。这一方案的核心优势在于减小了第一阶段的ADC在满足高精度要求方面的设计挑战，从而实现了更加节能和紧凑的芯片设计。此外，这项研究对于高速图像处理和数据采集系统中ADC的优化设计也具有重要参考价值。
