智能测量系统中的数据处理新方法 (2003年)

在智能测量系统中，一般是应用微处理器(MPU)并通过A/D转换器对被测信号进行多次重复采样，然后再对采样数据进行处理．但由于操作者失误、外界突发性强干扰等因素，常会使测量数据产生粗差，含有粗差的数据必须剔除．分析了传统粗差判断准则的原理和不足：当n值有限时，莱特准则和肖维涅准则都不可靠．应用数理统计理论，提出了一种新的粗差判断准则：|xi--X|>m，并介绍了该方法的实现步骤．经由实际测量系统试验，其更能有效地剔除粗差．