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可靠度测试规范-综合文档
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2021-05-24
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该文档介绍了关于出场测试所执行的规范以及可靠性测试的方法
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可 靠 度 测 试 规 范
编号
修订日期
版本
页次
!"
发行日期
# $
可 靠 度 测 试 项 目 目 录
%
&'(评价项目
(( 温度分布
$
)( 组件温度上升
!" 组件余裕度
*
+(, 热击穿(失控)
-
."+(+)( 高温短路
/
011&) 电解电容算出寿命
( 噪声免疫能力
&+" 静电气
#
0"+"(" 雷击
(%2%33."+( 高温输入 %2%33
0,(% 低温动作确认
$
(&4 动态输入变动
3%33 异常动作
*
振动
-
+5冲击
/
异常纹波确认
."+(高温测试
0,(低温测试
#
(2+(温湿度循环测试
$
1压力测试
$
!0输入瞬断测试
常温、常湿:定义湿温度5℃~35℃,相对湿度 45﹪~85﹪RH
可 靠 度 测 试 规 范
编号
修订日期
WI4201-02A
版本
页次
!"
$
发行日期
# $
((温度分布:
目的:确保待测物之可靠度;确认各组件均在温度规格范围内使用及有无组件异常
温度上升。
$适用:所有机种适用。
测试条件:
输入电压:规格范围之最小、最大值。6) -2$7)#2$/-8
负 载: 96最小 9、最大: 98。
输出电压:额定。
周围温度:常温。
接线图:
* 测试方法;
输入电压加入后,稳定状况下,测组件表面及焊接点之温度分布。
参考「温度 "率」。
量测之温度与温度 " 率比较,确认有无异常发热组件,参考「温度
"率」。
可 靠 度 测 试 规 范 编号
修订日期
WI4201-02A
INPUT
SOURCE
待測物 負載
短路用
治具
溫度
記錄器
版本
页次
!"
发行日期
# $
-温度 "率
%
组件名称 温度判定标准 备注
1 电阻 电阻最高耐温之80﹪
2 电容 电容最高耐温减5℃
3 半导体
+取 <之90﹪
$其它半导体(晶体管 =%3& 取
< 之80﹪)
热暴走高温短路测试
;-->
0; ﹪
;/->0;﹪
(;-2$/- 时
(<?﹪)@->为判
定基 础
4 基板
3A*; ->
$)&=A; >
)&=A ; >
*B!)A3; >
-判定:!)C最大耐温减10℃
与基板板厚无关
5
变压器
(含电
感)
绝缘区分: 种 E种 B种
标准温度: -> $>
>
热偶式 : #> -> >
; -> /->
->
WI4201-02A
可 靠 度 测 试 规 范
编号
修订日期
版本
页次
!"
4
发行日期
# $
$)(组件温度上升:
$ 目的:确保待测物之可靠度,确认各组件均在温度规格内使用。
$$ 适用:所有机种适用。
$ 测试条件:
输入电压:规格范围之最小、额定、最大。
负载:规格范围之最大。
输出电压:额定。
周围温度:常温。
接线图:
$* 测试方法:
依测试条件设定,当温度达到热平衡后,以热电偶测定组件温度,基板上之元
件焊点需测量温度。
参考温度 "计算出最大温升规格值△
6")('在 90 9下最高至 ->,则以附表A
"率之温度减去 - 得 9之 0% 下之△;/>时," 率为
9,
则减去 / 得到 9之△8实际负载在 9时依减 ->之△为规格值。
组件之选择以 A 温度分布测得之发热较多组件做测定。
组件实际温升不能超过计算得出之△。
WI4201-02A
INPUT
SOURCE
待測物
溫度記錄器
負載
可 靠 度 测 试 规 范
编号
修订日期
版本
页次
!"
5
发行日期
# $
!" 组件余裕度:
目的:确保待测物之可靠度,确认组件实际使用时能在绝对最大额定下之 "
率范围内。
$ 适用:所有机种适用。
测试条件:
测试待测物在下列条件下一次测和二次测主回路波形(电流波形和电压波形)
1. 定额输入和输出
2. 低压起动
3. 短路开机
4. 开机后短路
5. 满载关机(不做记录)
各回路波形和组件耐压请参考「组件 "」
接线图:
WI4201-02A
INPUT
SOURCE
待測物
SCOPE
負載
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