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Non-contact thickness measurement for ultra-thin metal foils wit...
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2021-02-11
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A new differential white light interference technique for the thickness measurements of metal foil is presented. In this work, the differential white light system consists of two Michelson interferometers in tandem, and the measured reflective surfaces are the corresponding surfaces of metal foil. Therefore, the measuring result is only relative to the thickness but not the position of metal foil. The method is non-contact and non-destructive, it has the advantages of high accuracy, fast detecti
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weixin_38523618
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