基于IEEE 1149.X标准的PCB测试与系统内编程解决方案供应商JTAG Technologies发布其著名的低成本JT 3705探测器的USB版本。JT 3705探测器是首批商用边界扫描控制器之一。
3705探测器的USB版本——JT 3705/USB探测器具有两个全面顺应边界扫描测试访问端口(TAP)。这两个访问端口能够同步执行测试功能，并适用于开展全套板测试，包括IEEE 1149.1、1149.4和1149.6以及PLD编程与低产量闪存编程。测试时钟频率可经编程上调至6兆赫，允许相当迅速地执行测试；而测试访问口电压可经设置，满足宽范围的输入和输出特征要求。
嵌入式系统是现代电子设备的核心组成部分，它们在各种领域如工业自动化、汽车电子、消费电子等中扮演着至关重要的角色。在嵌入式系统设计和开发过程中，确保硬件和软件的正确性和可靠性至关重要，而这就离不开有效的调试和测试工具。JTAG（Joint Test Action Group）技术就是其中一种关键的测试手段，它被广泛应用于嵌入式系统/ARM技术中。
JTAG Technologies是一家专注于提供基于IEEE 1149.X标准的PCB测试和系统内编程解决方案的公司。他们的JT 3705探测器是业界较早推出的商用边界扫描控制器，为工程师提供了高效、经济的测试方案。最近，JTAG Technologies发布了JT 3705探测器的USB版本，即JT 3705/USB，进一步提升了其产品的便携性和适用性。
JT 3705/USB探测器的核心特性在于其两个全面顺应边界扫描测试访问端口(TAP)。边界扫描技术是一种在系统内部进行芯片级测试的方法，通过TAP，可以访问并控制电路板上的各个组件，进行功能测试、故障定位以及编程。这两个同步执行的TAP端口使得JT 3705/USB能同时处理多个测试任务，从而提高了测试效率。
该探测器支持多种IEEE 1149标准，包括基础的1149.1（边界扫描）、1149.4（串行测试接入点）和1149.6（无线测试协议）。此外，它还可以进行PLD（可编程逻辑器件）编程和低产量闪存编程，满足了不同类型的嵌入式系统测试需求。JT 3705/USB的测试时钟频率可编程高达6兆赫，这使得测试过程能快速完成，减少了整体的调试时间。
测试访问口的电压可调性是JT 3705/USB的另一个亮点，它可以适应各种输入和输出电压等级，确保在各种条件下都能进行准确的测试。此外，该设备通过USB接口供电，这不仅简化了电源管理，也使得它更易于在移动设备或笔记本电脑上使用。JT 3705/USB与JTAG Technologies的开发工具（如JTAGProVision）和生产封装解决方案（如独立封装PSA和多种软件平台的集成封装）兼容，为用户提供了一站式的测试环境。
JTAG Technologies的JT 3705/USB探测器是嵌入式系统开发和测试领域的一个重要进步，它提升了测试的灵活性、速度和兼容性，降低了调试成本，对于嵌入式系统/ARM技术的开发者来说是一个强大的工具。随着技术的不断发展，这样的创新产品将继续推动嵌入式系统领域的进步。
