采用电学测量法对刮膜式分子蒸馏过程中蒸发壁面上液膜的连续性和液膜厚度进行测量．根据蒸发器壁面上液膜分布对导电性的影响，通过对电压信号的分析，总结出判断壁面液膜连续性的判据：各点的电压必须非零且分布均匀；波动较大．根据液膜厚度与导电溶液电阻值之间的关系，得到了壁面上液膜的平均厚度在0．01mm数量级；使用响应曲面法对实验数据进行处理，得到并验证了液膜厚度的二阶经验关联式．实验结果表明，对于刮膜式分子蒸馏装置，提高进料速度和转子转速有利于改善壁面上液膜的连续性，而且在不同进料速度下，影响液膜厚度的主要因素不同
