波片相位延迟量精密测量新方法

利用旋转波片的偏振干涉技术,结合机械-光学旋光调制器对光相位的调制,通过判断方波信号的有无,可精密地确定被测波片相位延迟的数值.机械-光学旋光调制器的使用,大大简化被测样品和测试装置中四分之一波片光轴方位的调整,也显著地提高了装置测量的灵敏度和波长测量范围.对环境不作特殊控制,依据本方法建立的测试装置的相对测量误差可小于千分之五.