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短沟道MOSFET散粒噪声测试方法研究
短沟道MOSFET散粒噪声测试方法研究
通用电子测量
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近年来随着介观物理和纳米电子学对散粒噪声研究的不断深入，人们发现散粒噪声可以很好的表征纳米器件内部电子传输特性。
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