Al/Si

研究用XRF基本参数法计算磁光盘的厚度和组成，铝层厚度用Al Kα线计算，两层氨化硅厚度都采用Si Kα线计算确定，磁光记录层采用Fe Kα，Co Kα和Tb Lα线来确定其厚度及组成。列出了膜厚方程，可由计算机很快解出，其结果与标准符合很好。