边界扫描（boundary scan）测试，也称为边界扫描技术或IEEE 1149.1标准，是一种用于电子电路板测试的技术，它允许对电路板上的集成电路进行内部和外部的检查，以检测短路和开路等缺陷。该技术为电路板上的各个焊盘提供了一种电子探针床，使得设备可以进行更加简便和高效地测试。
在传统的电路板测试中，制造商们通常使用两种技术：电路内测试和功能测试。在电路内测试技术中，ATE（自动测试设备）上的探针直接接触电路板表面的焊接点，并对设备的I/O引脚进行访问，从而可以测试各个设备及其之间的互连。这种技术需要对被测电路具有广泛的访问权限。功能测试则通过电路板的正常端子应用，例如通过边缘连接器。其目标是将电路板作为一个单独的实体进行测试。然而，测试生成、故障模拟和测试应用的成本是非常高昂的。
由于传统方法的局限性，IEEE 1149.1标准被提出，该标准定义了测试访问端口（TAP）和边界扫描架构，这是一种设计可测试性的框架。这个标准的主要目的是为了简化板级测试，通过提供一种电子探针床的方式，它也提供了对可能存在于芯片上的测试功能的访问。使用边界扫描技术的测试是序列化的，因此在保持诊断能力的同时，减少测试尺寸变得尤为重要，这也重新激发了对于有效实现技术探索的兴趣。
本文提出了一个用于分析测试生成和诊断布线互连算法的新框架。通过这个框架，文献中提出的算法被分析，清晰地识别了它们的优势和局限性。同时，文中还提出了一种新的最优自适应算法，可以降低测试和诊断的复杂性。
随着系统集成程度的提高，电路板面积减小，设备被压缩到更小的空间内，而系统又被安装在电路板上。集成电路的数量和复杂性都在增加，使得测试电路板变得困难和昂贵。因此，边界扫描技术由于其减少对被测电路板直接访问需求的优势，成为了测试复杂电路板的理想选择。
关键词包括：边界扫描（Boundary-Scan）、板级测试（Board Test）、测试生成（Test Generation）、诊断（Diagnosis）、互连测试（Interconnect Test）。
在本文的介绍部分中，作者提到随着系统集成水平的提高，电路板的尺寸缩小，集成电路的数量及其复杂性增加，测试变得更加困难和成本更高。传统的测试方法已经不再适应当前的复杂性，因此，IEEE 1149.1标准成为了行业广泛采纳的解决方案，简化了电路板测试流程。
该框架的提出和新算法的设计对于降低测试成本和提升诊断效率具有重要意义，为电子制造商提供了一种更高效、经济的测试手段。通过优化的自适应算法，可以进一步降低对测试硬件和诊断过程的复杂性要求，提高了测试的可操作性和诊断的准确性。
