1. 范围
该测试适用于评价、筛选、监测或鉴定试验所有固态器件。
高温存储测试经常用来判定在存储条件下时间和温度的影响,针对固体电子器件的热激活
失效机理和失效时间分布。测试器件,使用加速温度应力,不使用电气条件。该测试也许
具有破坏性,根据时间、温度和封装。
2. 参考文档
JESD22-B101, External Visual
JESD47,Stress-Test-Driven Qualication of Integrated Circuits
J-STD-020,Joint IPC/JEDEC Standard ,Moisture/Re)ow Sensitivity
Classication for Nonhermetic Solid State Surface-Mount Devices.
3. 设备
3.1 高温存储箱
在测试期间,能将所有测试样品保持在特定温度的可控温度箱。
3.2 电子测试设备
能对器件进行适当测量的电子设备。
4. 流程
4.1 高温存储条件
被测器件应该在表 1 的其中一个温度条件下连续存储。