TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
需积分: 50 195 浏览量
2013-12-16
20:58:36
上传
评论 1
收藏 1.53MB DOC 举报
东莞理工实验报告
系（院）、专业班级： 电子工程学院通信
6
班 姓名： 学号：
日期： 13.10.28 成绩：
课程 数字电子技术基础 实验室 8B209
名称 名 称
实验
名称 TTL 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
同组 林旭东 指 导 刘华珠
同学 教 师
实验目的：1、掌握 TTL 集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法
2、掌握 TTL 器件的使用规则
实验设备： 1、+5V 直流电源 2、逻辑电平开关
3、逻辑电平显示器 4、直流数字电压表
5、直流毫安表 6、直流微安表
7、74LS20×2、1K、10K 电位器，200Ω 电阻器(0.5W)
实验原理：本实验采用双四输入与非门 74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独
立的与非门，每个与非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图 1(a)、(b)、(c)所
示。
(b)
（a） (c)
图 1 74LS20 逻辑框图、逻辑符号及引脚排列
2、TTL 与非门的主要参数
资源评论
