Timing And Patterns

### 关于《Timing And Patterns》的关键知识点 #### 一、引言 《Timing And Patterns》是一篇关于测试开发基础知识的短文，由Dirk Hill撰写。该文章主要讲解了如何根据时序图和时序表来开发一组格式、时序集以及模式。本文将详细介绍这些概念，并基于文中提到的简单SRAM内存设备进行分析。 #### 二、SRAM内存设备概述 文中所使用的设备是一款简单的静态随机存取存储器(SRAM)。它具有以下特点： - **地址/数据总线复用**：设备通过四条并行的地址/数据线访问16个内存位置。 - **控制信号**：有三个控制信号线： - **地址锁存使能(ALE)**：用于锁存地址。 - **写使能(WR)**：用于触发写操作。 - **读使能(RD)**：用于触发读操作。 - **工作原理**：为了访问一个特定的内存位置，首先需要锁存地址，然后执行读或写操作。一旦地址被锁存，可以对该位置进行多次读写操作。 #### 三、时序图(Timing Diagram) 时序图是描述设备各引脚之间关系的重要工具。它们通常基于设备的时钟周期，展示各个信号之间的相对时间关系。在本文中，时序图包括了以下关键要素： - **地址设置时间(Tas)**：地址必须稳定的时间，直到地址锁存使能(ALE)的下降沿。 - **地址保持时间(Tah)**：地址必须稳定的时间，在地址锁存使能(ALE)下降沿之后。 - **数据设置时间(Tds)**：对于写操作，数据必须稳定的时间，直到写使能(WR)的下降沿。 - **数据保持时间(Tdh)**：对于写操作，数据必须稳定的时间，在写使能(WR)下降沿之后。 - **输出使能时间(Toe)**：对于读操作，从读使能(RD)上升沿到数据稳定输出所需的时间。 - **数据保持时间(Tdhr)**：对于读操作，数据必须稳定的时间，在读使能(RD)上升沿之后。 #### 四、时序(Timing) 时序是指信号到达特定点的时间点。在本文中，时序表和时序图一起提供了一种全面理解设备内部信号如何相互作用的方式。时序参数对于确保正确地与外部设备通信至关重要。 #### 五、格式(Formats) 格式定义了信号的传输方式。在文中提到的简化“测试仪”具备每根引脚上四个边缘集和四个格式集的能力，这意味着它可以灵活地调整信号的形状和定时。虽然本文没有涉及格式切换的即时性，但在实际应用中，这种能力可以帮助提高测试效率。 #### 六、时序 II (Timing II) 这部分可能是对前文时序概念的进一步扩展或深化，可能包括更具体的例子或应用场景。由于文本中没有提供更多细节，我们无法深入了解其具体内容。 #### 七、模式(Patterns) 模式通常指的是在测试过程中按预定顺序发送的一系列信号。这些模式有助于验证设备的功能是否符合预期。在文中提到的例子中，模式的创建基于时序图和时序表。 #### 八、将所有内容结合在一起(Bringing It All Together) 将所有这些元素结合起来意味着能够设计出有效的测试方案，确保SRAM设备按照预期工作。这包括创建符合时序要求的信号序列，以及确保数据的准确读写。 #### 九、总结 《Timing And Patterns》这篇文章为读者提供了一个深入理解测试开发基础知识的机会。通过对时序图、时序、格式、模式等概念的介绍，我们可以更好地理解如何为SRAM这样的简单内存设备设计测试方案。通过理解这些核心概念，测试工程师能够有效地验证设备的功能，确保它们满足设计要求。