边界扫描技术（Boundary Scan），也称为IEEE 1149.1标准，是一种用于集成电路测试的高级测试技术。它利用芯片内部的一个附加的寄存器链来实现对芯片引脚输入输出信号的访问与控制，从而可以执行芯片及芯片间互连的测试。
边界扫描的主要目的包括：检测电路板上芯片之间的开路、短路情况，检查数字器件的功能不良问题，以及进行芯片级的功能测试。与传统向量测试相比，边界扫描的优点包括测试开发时间更短、能测试那些难以接触的器件引脚、降低维修时间和成本，并且能够将故障诊断范围缩小至芯片的PIN脚。
在进行边界扫描测试时，会向被测数字器件的转换寄存器发送信号流，这些寄存器位于每个输入、输出及双向引脚处，并围绕器件的逻辑中心。信号会在寄存器中转换后从器件输出，通过比对输出信号与输入信号的差异来判断是否有错误发生。如果存在引脚间短路或者电源与地脚短路等问题，系统将能够报告错误。
多个边界扫描器件可以被连接到一个链上，实现并行执行一些基础测试。测试软件包如Agilent3070上的in-circuitboundaryscan和HPinterconnectplus，可以根据IEEE 1149.1标准进行链式的边界扫描测试程序的生成。
边界扫描器件的设计遵循IEEE 1149.1标准，标准定义了每个引脚与逻辑中心之间的独立单元，它们连接到称为边界扫描寄存器的转换寄存器。每个边界扫描器件都包含特殊输入引脚（TDI）和输出引脚（TDO），TDI作为边界扫描寄存器的输入端，TDO连接到其输出端。时钟控制信号（TCK）、工作模式选择信号（TMS）和复位信号（TRST*）共同构成测试访问端口（TAP），负责控制整个工作流程。
TAP控制器是一个16位态的设备，管理数据和指令寄存器，并通过TCK、TMS、TRST*控制信号进行控制。它能够执行不同的操作模式，包括转换模式、更新模式和测试模式。
为了适应不同的测试需求，边界扫描技术还包含指令寄存器和Bypass寄存器。指令寄存器负责指令的解码和数据寄存器使用的特殊指令。Bypass寄存器用于当一些IC用其他测试技术（如TESTJET）进行测试时，可以不使用边界扫描寄存器链而是用单个Bypass寄存器单元进行数据传输。此外，身份识别寄存器（IDCODE寄存器）包含了元件制造商、型号和版本等信息。
IEEE 1149.1标准提供了一种灵活性较高的测试机制，允许芯片在生产测试、板级测试以及系统测试中都能有效地进行。这不仅有助于早期发现问题，减少返工成本，还能够提升产品的最终质量与可靠性。
