CP、CPK、PP、PPK、CMK的计算公式过程能力指数公式
1星 需积分: 45 53 浏览量
2017-09-28
11:34:10
上传
评论
收藏 67KB PDF 举报 
过程能力指数
一、 双侧公差情况的过程能力指数
1﹑对于侧公差能情况，过程能力指数 CP 的定义如下；
σσ
6
6
LU
TT
T
CP
−
== ①
T 为技术公差的幅度，
u
t ﹑
L
t 分别为上﹑下公差限，σ为质量特性值分布的总体标准差。当σ未知时，
可用σ=R（bar）/d2 或σ=S（bar）/C4 估计，其中 R 为样本的极差，R（bar）为平均数，S 为样本的标准
差，S（bar）为平均数；D2、C4 为修正系数，可根据样本组的个数查表获得；
注意；估计值必须在稳定的状态下进行，在 GB/T4091-2001《常规控制图》中有明确的规定；
当 CP=2、σ=0·5 时，P=2ppm=2×
9
10
=
。事实上，从 CP=1，σ=1 时，可以得出 CP=1=T/6σ，即 T=6，于
是σ-1/CP。故对于 CP=2，σ=1/2=0·5，也就是说能力指数与不合格率是一一对应的。
二、单侧公差情况的能力指数
1、 若只有上限要求时，而对下限没有要求时，则过程能力指数计算如下；
σ
µ
3
−
=
U
PU
T
C （μ< TU）
CPU 为上单侧过程能力指数，当μ≥TU 时，记作 CPU=0 上限要求
2、 若只有下限要求时，而对上限没有要求时，则过程能力指数计算如下；
σ
µ
3
l
pl
t
c
−
=
（μ>TL）
CPL 为下单侧过程能力指数，当μ≤TL 时，记作 CPL=0 下限要求
上面二例中的μ与σ未知时，可用样本估计，例如用 X（bar）估计μ，用 S 估计σ，
三、有偏移情况的过程能力指数
当产品质量特性分布的均值μ与公差中心Μ不重合，即有偏移时，不合格率必然回增大，CP 值降低，当
过程能力指数不能反映有偏移的实际情况，需要加以修正，记修正后的过程能力指数为 CPK，则计算公式为；
),min(
PLPU
CCCPK =
记作分布中心μ对于公差中心 M 的偏移为ε=|M-μ|，定义μ与 M 的相对偏移（偏移度）K 为；
T
T
k
ε
ε
2
2
/
== （0≤K<1）
则过程能力指数修正为；
∧
−≈−=−=
σ
σ
6
)1(
6
)1()1(
T
K
T
KCKC
PPK
这样，当μ=M（即分布中心与公差中心重合无偏移）时，K=0，CPK=CP，注意 CPK 也必须是在稳定状态下
求得；
PDF 文件使用 "pdfFactory" 试用版本创建 www.fineprint.com.cn
资源评论
草莓遇见巧克力2019-01-09一般般，对我没什么用处
