LPDDR4 JEDEC标准测试实例解析-地址总线写操作

PDDR4 JEDEC标准测试实例解析--地址总线写操作 说完DQ信号的读写测试，接下来，再来聊一聊命令及地址总线（CA Bus）的测试，由于CA bus只有一个信号流向，因此，只需要进行写操作的测试即可； 如下图所示，为JEDEC标准中定义的CA相关的测试参数，接下来，将对测试项逐一进行解析； ### LPDDR4 JEDEC标准测试实例解析—地址总线写操作 #### 一、引言 随着移动设备的快速发展，高性能内存技术变得越来越重要。LPDDR4作为一种高速、低功耗的动态随机存取存储器（DRAM），广泛应用于智能手机、平板电脑等移动设备中。为了确保LPDDR4芯片的质量与可靠性，JEDEC组织制定了一系列严格的测试标准。本文将重点解析LPDDR4中命令及地址总线（CA Bus）的写操作测试实例。 #### 二、CA Bus概述 命令及地址总线（CA Bus）在LPDDR4中扮演着关键角色，负责传输指令与地址信息。不同于双向传输的DQ信号，CA Bus仅支持单向数据传输，即只进行写操作。这使得CA Bus的测试相比DQ信号更为简化。 #### 三、JEDEC标准中的测试参数解析 根据JEDEC标准文档，针对CA Bus的测试主要关注以下几个方面： 1. **tCIVW 和 vCIVW** - **定义**：这两个参数分别表示CA信号眼图的时间宽度（tCIVW）和电压幅度限制值（vCIVW）。它们是测试过程中的固定参考值。 - **作用**：tCIVW和vCIVW共同定义了眼图的有效区域，以确保信号的质量。测试过程中，信号的眼图应尽可能远离这一限定区域，以减少干扰。 2. **SRIN_cIVW** - **定义**：该测试项用于验证信号边沿斜率（tr 和 tf），即信号从低电平到高电平或从高电平到低电平的变化速度是否满足要求。 - **作用**：信号边沿斜率对于保证信号完整性至关重要，特别是在高速信号传输过程中。 3. **tcIPW** - **定义**：tcIPW用于验证最小输入脉冲宽度，即信号维持在有效电平状态的最短时间。 - **作用**：tcIPW是确保信号能够被正确识别的关键指标之一。 4. **CA_VIHL_AC** - **定义**：该测试项用于验证信号的峰峰值电压是否符合要求。 - **作用**：通过测量信号的电压变化范围，可以评估信号质量，确保其在正常范围内波动。 #### 四、实测波形分析 - **tCIVW 和 vCIVW 的实测波形** - 在实际测试中，工程师会观察眼图是否位于由tCIVW和vCIVW定义的区域内。如果眼图过大或过小，都可能表明信号存在问题。 - **SRIN_cIVW 实测波形** - 通过分析SRIN_cIVW的实测波形，可以判断信号上升时间和下降时间是否符合JEDEC标准要求。 - **tcIPW 实测波形** - tcIPW的实测波形展示了信号在vCIVW的一半处的有效持续时间，这对于评估信号的稳定性非常重要。 - **CA_VIHL_AC 实测波形** - CA_VIHL_AC的实测波形用于验证信号的电压变化范围，以确保信号的质量。 #### 五、总结 通过对LPDDR4 JEDEC标准测试实例的解析，我们可以看到CA Bus的测试虽然较为简单，但仍然需要精确控制各项指标以确保数据传输的可靠性和稳定性。相较于DQ信号，CA Bus的测试项目更少，但同样重要。此外，CK、DQS和DQ的时序测试仍然是LPDDR4测试中的重点，需要设计者给予足够的重视。通过遵循JEDEC标准进行严格测试，可以大大提高LPDDR4产品的质量和性能。