JEDEC JEP148B：2014（R2019) Reliability Qualification of Semiconductor Devices Based on Physics of Failure Risk and Opportunity Assessment - 完整英文电子版（35页）.pdf
《JEDEC JEP148B：2014（R2019) Reliability Qualification of Semiconductor Devices Based on Physics of Failure Risk and Opportunity Assessment》是半导体设备可靠性评估的重要标准，由JEDEC固态技术协会发布。这个文档是2014年1月首次发布的，2019年9月进行了重申，共35页，详细阐述了基于失效机理风险和机会评估的半导体器件可靠性资格认证。
JEDEC（Joint Electron Device Engineering Council）是全球电子组件标准制定的主要组织之一，其标准旨在消除制造商与购买者之间的误解，促进产品的互换性和改进，并帮助购买者在最短的时间内选择和获取正确的半导体产品，无论是在国内还是国际市场上使用。
JEP148B标准是对2004年JEP148A的修订版，它引入了基于物理失效原理的风险和机会评估方法。这种方法更侧重于理解设备可能的失效模式，通过对失效机理的深入分析，预测并预防半导体器件在设计、制造和使用过程中的潜在问题。通过这样的评估，可以在早期阶段识别出可能导致器件寿命缩短或性能下降的因素，从而提高整体的可靠性。
该标准强调，任何声明符合此标准的行为必须满足标准中所有列出的要求。这意味着，半导体制造商必须确保其产品在设计和生产过程中遵循了标准的所有规定，以确保其可靠性和性能。
JEDEC标准和出版物的内容反映了固态设备制造商视角下对产品规范和应用的合理方法。同时，JEDEC的标准有可能进一步发展成为ANSI（美国国家标准学会）的标准。对于标准内容的询问、评论或建议，可以直接联系JEDEC，或者通过其官方网站上的信息进行沟通。
JEP148B提供了一个系统性的框架，帮助半导体行业通过失效机理分析来提升产品质量和可靠性，降低产品失败的风险，对于半导体设计、制造和测试领域具有重要的指导意义。
