Design-For-Test For Digital IC's and Embedded Core Systems

《Design-For-Test For Digital IC's and Embedded Core Systems》是一本专为IC设计的研究生、博士生以及工程师量身打造的经典著作，深入探讨了数字集成电路（Digital IC）的可测性设计（DFT，Design-for-Test）以及嵌入式核心系统（Embedded Core System）的测试策略。在当今高速发展的半导体行业中，DFT技术对于提高产品的质量和降低生产成本至关重要。本书详尽阐述了这一领域的关键概念、方法和实践，旨在帮助读者理解和掌握这一领域的核心知识。 一、IC DFT（Design-for-Test） 1. **基础理论**：DFT是一种在设计阶段就考虑测试性的方法，它使得电路在制造后能更方便、高效地进行检测和故障诊断。书中会详细介绍DFT的基本原理，包括测试点（Test Point）、扫描链（Scan Chain）、边界扫描（Boundary Scan）等基本概念。 2. **测试生成**：DFT技术的一个重要方面是测试向量的生成，这通常涉及到ATPG（Automatic Test Pattern Generation）算法。书中可能涵盖如何使用这些算法来生成有效的测试序列，以检测电路中的潜在故障。 3. **可测性设计结构**：如嵌入式逻辑探针（Embedded Logic Probes）、多电压测试（Multi-Voltage Testing）和自检测电路（Built-In Self-Test，BIST）等，这些结构可以显著提高测试覆盖率和测试效率。 4. **功耗与测试**：在现代IC设计中，功耗问题不容忽视。DFT技术也需要考虑如何在保证测试效果的同时，降低测试过程中的功耗。 二、嵌入式核心系统 1. **系统级DFT**：嵌入式系统通常包含多个核心和复杂的接口。书中将讨论如何在系统级实现DFT，包括如何对多核系统进行测试，以及如何处理异构系统中的测试挑战。 2. **IP核的可测试性**：在嵌入式系统中，IP核（ Intellectual Property Cores）是关键组件。书中可能会介绍如何设计和评估IP核的可测试性，以及如何在系统集成中考虑DFT。 3. **测试接口和协议**：例如JTAG（Joint Test Action Group）和UVM（Universal Verification Methodology）等，这些接口和协议在嵌入式系统DFT中起到重要作用，用于控制和监控测试过程。 4. **故障模型和诊断**：针对嵌入式系统的故障模型，书中可能会探讨如何进行有效的故障模拟和诊断，以及如何设计容错机制。 通过学习《Design-For-Test For Digital IC's and Embedded Core Systems》，读者将能够掌握先进的DFT技术，理解如何在设计阶段优化IC和嵌入式系统的测试流程，从而提升产品质量，降低生产成本。这本书对于任何致力于IC设计和嵌入式系统开发的专业人士来说，都是一份宝贵的参考资料。