NEC-UPD78F0485 器件手册

根据提供的文档信息，我们可以推断出这是一份关于NEC公司生产的μPD78F系列单片机的用户手册。该手册主要介绍了型号为μPD78F0471至μPD78F0495的一系列单片机，并提供了关于这些设备的基本操作指南和技术规范。以下是对这份文档涉及的关键知识点的详细解读。 ### 一、概述 **文档编号**：U18329EJ4V0UD00（第四版） **出版日期**：2008年8月 **印刷地**：日本 **文档版本**：2007年版 该手册涵盖了多个不同型号的μPD78F系列单片机，具体包括： - μPD78F0471/0481/0491 - μPD78F0472/0482/0492 - μPD78F0473/0483/0493 - μPD78F0474/0484/0494 - μPD78F0475/0485/0495 这些单片机均属于78K0/LF38位单片机系列。 ### 二、电压应用波形及输入引脚 文档中提到，在CMOS器件中，如果输入端口接收到的信号位于VIL(MAX)和VIH(MIN)之间，则可能导致设备故障。因此，需要注意防止噪声或反射波导致的波形失真问题。在固定输入电平以及输入电平通过VIL(MAX)和VIH(MIN)之间的过渡期间，应特别注意防止噪声引起的颤动。 ### 三、未使用输入引脚的处理 对于未使用的CMOS设备输入引脚，如果不加以控制，可能会因为噪声等原因产生内部输入电平，进而导致设备故障。与双极型或NMOS器件相比，CMOS器件的行为有所不同，其输入电平必须通过上拉或下拉电路固定为高或低电平。若存在成为输出引脚的可能性，则每个未使用的引脚都应该通过一个电阻连接到VDD或GND。对于未使用引脚的处理，需根据设备的具体规格单独判断。 ### 四、静电放电预防措施 文档中还提到了静电放电(ESD)可能对MOS器件造成的损害。为避免这一问题，建议采取以下措施： - 尽可能减少静电的产生，并迅速耗散产生的静电。 - 在干燥环境中使用加湿器。 - 避免使用容易积累静电的绝缘材料。 - 半导体器件应在防静电容器或防静电屏蔽袋中储存和运输。 - 所有测试和测量工具、工作台和地板都应接地。 - 操作员应使用手腕带进行接地。 - 不应徒手触摸半导体器件。 《NEC-UPD78F0485 器件手册》详细介绍了μPD78F系列单片机的使用方法和技术规范，涵盖了电压应用波形、未使用输入引脚的处理方式以及静电放电预防措施等关键内容。这对于从事NEC单片机开发和应用的工程师来说是非常有价值的参考资料。