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可测性设计及DFT软件的使用
可测性设计及DFT软件的使用
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DFT基础 DFTCompile生成扫描链 TetraMAX生成ATPG 设计实例
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DFT Compiler
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DFT比较简易的教程.pdf
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关于DFT的写的非常好的入门教程，深入浅出，浅显易懂，值得每个入门的人看一看！ 关于DFT的写的非常好的入门教程，深入浅出，浅显易懂，值得每个入门的人看一看！ 关于DFT的写的非常好的入门教程，深入浅出，浅显易懂，值得每个入门的人看一看！
VLSI测试方法学和可测性设计
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一本很好的学习VLSI测试的书-- VLSI测试方法学和可测性设计
VLSI可测性设计－冯建华课程 05-1
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北大微电子所冯建华教授可测性设计课件
可测性设计实验报告
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可测性性设计实验课程报告，内容详细完整并有实验截图
可测性设计(DFT)
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测试：就是检测出生产过程中的缺陷，并挑出废品的过程。 测试的基本情况：封装前后都需要进行测试。 测试与验证的区别：目的、方法和条件 测试的难点：复杂度和约束。 可测性设计：有利于测试的设计。
可测性设计和DFT软件的使用专题培训课件.ppt
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可测性设计及DFT软件的使用PPT学习教案.pptx
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如何使用DFT App进行硬件加速仿真设计
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可测试性设计 （DFT） 在市场上所有的电子设计自动化（EDA） 工具中是不被重视的，纵然在设计阶段提高芯片的可测试性将会大幅缩减高昂的测试成本，也是如此。近的分析数据表明，在制造完成后测试芯片是否存在制造缺陷的成本已增至占制造成本的 40%，这已达到警戒水平。 DFT 可以降低通过问题器件的风险，如果终在实际应用中才发现器件有缺陷，所产生的成本将远远高于在制造阶段发现的成本。它还能避免剔除
经硬件仿真验证的可测试性设计 (DFT)
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最近的统计数据表明：制造完成后，测试芯片是否存在制造缺陷（与不存在设计缺陷相比）的成本已增至制造成本的 40%。...该方法称为可测试性设计 (DFT)本文为大家介绍一下硬件仿真验证的可测试性设计。
可测性设计及软件的使用(与“测试”有关的文档共48张).pptx
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可测性设计(DFT, Design for Testability)是电子设计领域的一个重要概念，它涉及到如何在硬件和软件设计阶段就考虑到未来测试的便利性，以提高产品的质量和可靠性。本资料是一份包含48页的PPT，主要讲解了可测性设计...
浅谈数字电路的可测性设计
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为了解决上述问题，测试领域出现了一系列新的测试概念和技术，其中之一就是在产品设计阶段引入“可测试性”的概念，即所谓的“可测性设计”（Design for Testability, DFT）。本文将详细介绍可测性设计技术的重要性...
DFT设计流程
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在学习DFT设计流程时，2003-04-6.pdf、DFT_ATPG实验.doc、可测性设计及DFT软件的使用.ppt、dft.pdf等文档提供了丰富的参考资料，涵盖了DFT的基本概念、ATPG原理、DC工具的使用方法等内容。通过阅读和实践，设计者...
VLSI测试方法学和可测性设计part2
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VLSI测试方法学和可测性设计--Part2
VLSI测试方法学和可测性设计part3
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中科院研究生院课程:VLSI测试与可测试性设计
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中科院研究生院课程 VLSI测试与可测试性设计， 李晓维中科院计算技术研究所，全部课件！！
全面了解DFT技术：如何测试一颗芯片
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全面讲解了DFT测试的方法，让初学者对DFT技术有一个全面的认识和整体的概念。
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DFT的matlab源代码-numjs:NumJS库专为使用Javascript进行科学计算而设计
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数字集成电路的可测性设计及验证方法学是集成电路设计领域中不可或缺的部分，它确保设计的芯片能够有效地被测试，以便发现并修正生产过程中的缺陷。设计可测性（DesignForTest, DFT）的概念出现在20世纪60年代，旨在...
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可测试性设计（DFT，Design For Testability）旨在通过在设计过程中集成特定的测试结构和技术，来提高测试效率和降低成本。 #### 二、DFT的基本概念 ##### 2.1 AdHoc技术 AdHoc技术是指在ASIC设计中针对特定的...
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可测性设计（Design for Testability，DFT）是VLSI设计中的一个关键环节，旨在提高芯片的测试效率和覆盖率，减少生产成本和时间。在VLSI领域，由于电路复杂度的增加，传统的测试方法变得越来越难以实施，因此DFT技术...
可测性设计及
DFT
软件的使用
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07
-1
1-5
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DFT
基础
DFTCompile
生成扫描链
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生成
ATPG
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200
07
-1
1-5
49
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3
DFT
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测试
DFT
故障模型
ATPG
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常用方法
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1-5
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测试
(1-3)
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中的物
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200
07
-1
1-5
49
共
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5
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(2-3)
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