硬盘寿命和SMART技术
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2009-02-22
16:30:39
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早在上个世纪九十年代，人们就意识到数据的宝贵性胜于硬盘自身价值，渴望有种技术能
对硬盘故障进行预测并实现相对安全的数据保护，因此 S.M.A.R.T 技术应运而生。目前，
虽然大多数硬盘的平均无故障时间(MTBF)已达 30000～50000 小时以上，然而对于不少用
户，特别是商业用户而言，一次普通的硬盘故障便足以造成灾难性后果，所以时至今日，
S.M.A.R.T 技术仍为我们所用。
一、S.M.A.R.T 究竟是什么？
S.M.A.R.T 的全称为“Self-Monitoring，Analysis and Reporting Technology”，即“自我监
测、分析及报告技术”。支持 S.M.A.R.T 技术的硬盘可以通过硬盘上的监测指令和主机上的
监测软件对磁头、盘片、马达、电路的运行情况、历史记录及预设的安全值进行分析、比
较。当出现安全值范围以外的情况时，就会自动向用户发出警告。
该技术由 Compaq 公司率先开发，IBM、希捷、富士通、昆腾等硬盘厂商参与修正，并
融合了 Compaq 公司的 IntelliSafe 诊断技术和 IBM 的 PFA 检测技术特点。
1995 年 5 月，Compaq 公司向 Small Form Factor(SFF)委员会提交了 IntelliSafe 的技术
标准报告(SFF-8035i)；1996 年 1 月进行 1.0 版的修正(SFF-8035R2)；1996 年 6 月进行了
1.3 版的修正(SFF-8055)，并联合 IBM 等公司向 SFF 正式申请将 IntelliSafe 技术加入到
ATA-3 的行业标准中，正式更名为 S.M.A.R.T(图 1)。
S.M.A.R.T 技术的图标
作为行业标准，S.M.A.R.T 规定了硬盘制造厂商应遵循的标准。满足 S.M.A.R.T 标准的
条件主要包括：在设备制造期间完成 S.M.A.R.T 需要的各项参数、属性的设定；在特定系
统平台下，能够正常使用 S.M.A.R.T；通过 BIOS 检测，能够识别设备是否支持 S.M.A.R.T
并可显示相关信息，而且能辨别有效和失效的 S.M.A.R.T 信息；允许用户自由开启和关闭
S.M.A.R.T 功能；在用户使用过程中，能提供 S.M.A.R.T 的各项有效信息，确定设备的工
作状态，并能发出相应的修正指令或警告。在硬盘以及操作系统都支持 S.M.A.R.T.技术并
且该技术默认开启的的情况下，在不良状态出现时 S.M.A.R.T.技术能够在屏幕上显示英文
警告信息：“WARNING：IMMEDIATLY BACKUP YOUR DATA AND REPLACE YOUR
HARD DISK DRIVE，A FAILURE MAY BE IMMINENT．” (警告：立刻备份你的数据同时
更换硬盘驱动器，可能有错误出现。)
二、S.M.A.R.T 在何处？如何工作？
S.M.A.R.T 信息保留在硬盘的系统保留区(service area)内，这个区域一般位于硬盘 0 物
理面的最前面几十个物理磁道，由厂商写入相关内部管理程序。除了 S.M.A.R.T 信息表外
还包括低级格式化程序、加密解密程序、自监控程序、自动修复程序等。监测软件通过一
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